咨询热线:021-80392549
发布信息

纳米粒子测量仪U-SMPS2050/2100/2200

点击图片查看原图
高分辨率: 最多128个大小类/衰减
粒径分布: 8 nm到1.2 μm
直观操作: 使用7英寸触摸屏和GUI
单价: 面议
所在地: 天津
有效期至: 长期有效
最后更新: 2023-06-28 10:25
浏览次数: 333
询价
店铺基本资料信息
 
产品详细说明
 通用扫描迁移率粒度仪,适合各种应用(8–1200nm)
    粒径分布从8 nm到1.2 µm 
    连续和快速扫描的测量原理 
    高分辨率,***多128个大小类/衰减 
    适用于高达108颗粒数/立方厘米的浓度 
    可以连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器 
    图形显示测量值 
    直观操作,使用7英寸触摸屏和GUI 
    集成数据记录仪 
    支持多种接口和远程访问 
    低维护 
    功能可靠 
    减少您的运营费用 *请联系Palas®了解更多信息。
 


图1:U-SMPS 2050/2100/2200

Palas®通用扫描迁移率粒度仪(U-SMPS)有两个版本。长分类柱(2050/2100型)能够可靠地确定8至1,200 nm的粒径分布。 Palas®U-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义为差分电迁移率分类器(DMA),也称为差分迁移率分析器(DEMC)],根据气溶胶颗粒的电迁移率选择并传递给出口。

然后通过冷凝颗粒计数器(例如Palas®UF-CPC)对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC模型可实现各种浓度范围内的***佳单颗粒计数。 Wiedensohler教授(德国IfT莱比锡)开发了Palas®的算法,用于对测量数据进行反演以产生U-SMPS粒度分布。

U-SMPS使用触摸屏上的图形用户界面进行操作。单个粒子分布扫描可以在短短30秒内执行,或者,每十个通道***多执行64个尺寸通道,在此期间,DEMC分类器中的电压连续变化,从而导致每个尺寸通道的计数统计更高。集成的数据记录器允许在设备上以线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估(广泛的统计和平均)以及导出功能。

U-SMPS通常作为独立设备运行,但也可以使用各种接口(USB,LAN,WLAN,RS-232/485)连接到计算机或网络。 Palas®U-SMPS支持其他制造商的各类DMA、CPC和气溶胶静电计。

U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能十分重要,对于校准来说尤其如此。所有组件都通过严格的质量保证测试,并在内部组装。

图2展示U-SMPS的工作原理:

气溶胶在进入分类器(DEMC列)之前经过调节。可选的干燥器(例如硅胶,Nafion)可以去除颗粒中的水分。使用双极中和剂(例如Kr 85)来确保测定的气溶胶电荷分布。为了去除大于分类机尺寸范围的颗粒,需要在DEMC的入口处使用撞击器。

图2:通用扫描迁移率粒度仪(U-SMPS)的工作原理

然后,气溶胶通过入口导入DEMC色谱柱。沿着外部电极的气溶胶流在此与护套气流仔细合并。重要的是,在此处应避免任何湍流,以确保层流。电极的表面在光滑度和公差方面必须具有极高的质量。

鞘空气是干燥的、无颗粒的载气(通常是空气),其体积大于连续在闭环中循环的气溶胶的体积。鞘空气与样品空气的体积比定义传递函数,从而定义尺寸分类器的分辨率。

通过施加电压在内和外电极之间产生径向对称的电场。内电极在末端具有小缝隙,带正电。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力,带负电的粒子被转移到正电极。根据它们的电迁移率,一些颗粒会穿过狭缝并离开DEMC。

在工作中,电压和电场连续变化。结果,迁移率变化的粒子离开DEMC,并由纳米粒子计数器(例如缩合粒子计数器)(例如Palas®UF-CPC)连续进行测量。

在实际条件下,经过测试的软件为组合数据(电压、粒子数等)并获得粒度分布提供特殊的处理功能,如图3所示。

图3:Palas®DNP 3000颗粒发生器产生的气溶胶的粒径分布

用户界面和软件

基于持续的客户反馈,我们已设计良好的用户界面和软件,以实现直观的操作、实时控制,并可以显示测量数据和参数。

此外,软件还通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络支持为数据管理提供支持。可以使用许多可用的显示选项和测量数据评估功能。

合作投稿:您好,欢迎光临,我们将竭诚为您服务 展会合作:您好,欢迎光临,我们将竭诚为您服务会员咨询:您好,欢迎光临,我们将竭诚为您服务广告合作:您好,欢迎光临,我们将竭诚为您服务软文营销:您好,欢迎光临,我们将竭诚为您服务短视频营销:您好,欢迎光临,我们将竭诚为您服务沪公网备31011402005898号